日本KETT 膜厚计LH-200J

L特点：
     本仪器采用了涡流测厚方法，可无损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。
内置打印机，可打印数据，有四个统计功能

H-200J
 
测定方法  高频涡流式
测定对象  非磁性金属上绝缘层
测定范围  0～800um或0～32.0mils
测定精度  <50um±1um       >50um±2%
分辨率    100um 0.1um    >100um 1um
界限设定  可设定上/下限数值
测试单位  公/英制互换
显示方式  LCD数显
操作面板  密封防水按键
附属品    铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书  电源  DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个
体积     80(W)×80(D)×30(H)      重量     1100g